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            低溫機(jī)械報(bào)價(jià)

            低溫機(jī)械報(bào)價(jià)

            簡要描述:

            低溫機(jī)械報(bào)價(jià)主要用于測試工業(yè)產(chǎn)品在恒濕、恒高溫,恒低溫的不同氣候環(huán)境下的使用,運(yùn)輸和儲(chǔ)存時(shí)的性能試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)

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            低溫機(jī)械報(bào)價(jià)主要用于測試工業(yè)產(chǎn)品在恒濕、恒高溫,恒低溫的不同氣候環(huán)境下的使用,運(yùn)輸和儲(chǔ)存時(shí)的性能試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn),主要用于對電工,電器、電子、光電產(chǎn)品,包括所有工業(yè)品的元器件,零部件,金屬材料及其在模擬濕熱、高溫,低溫的不同氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行試驗(yàn),試驗(yàn)測試后,通過檢定后的成果來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求或者標(biāo)準(zhǔn),以便提供產(chǎn)品的改良,設(shè)計(jì),生產(chǎn),檢定及出廠檢驗(yàn)使用。
            選型資料:
            常規(guī)型號有: AP-HX-80D;AP-HX-100D;AP-HX-150D;AP-HX-225D;AP-HX-408D;AP-HX-800D;AP-HX-1000D
            工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深(cm): 40*50*40;50*50*40;50*60*50;50*75*60;60*85*80;100*100*800;100*100*100;
            設(shè)備內(nèi)箱尺寸寬*高*深(cm)約: 98*135*98;105*147*105;108*150*108;107*160*119;120*173*128;156*183*130;157*186*150;
            功率: 因?yàn)椴煌某叽缗洳煌臏囟确秶β蕰?huì)有所不同,請根據(jù)愛佩廠家提供的技術(shù)規(guī)格書上的為準(zhǔn)。
            溫度可選擇范圍: A:0℃~150℃ B:-20℃~150℃ C:-40℃~150℃ D:-70℃~150℃(每個(gè)尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中段)
            均勻度/波動(dòng)度: ±2℃/±0.5℃
            高溫恒溫的升溫速率: 1.0~3.0℃/min
            低溫恒溫的降溫速率: 0.7~1.0℃/min
            主要控制器: 進(jìn)口LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器(可編程)
            精度范圍: 設(shè)定精度:溫度±0.1℃,指示精度:溫度±0.1℃,解析度:0.01℃
            溫度傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV
            東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司是專業(yè)生產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室恒溫恒濕試驗(yàn)箱的直銷廠家,本公司生產(chǎn)的低溫機(jī)械報(bào)價(jià)適合任何實(shí)驗(yàn)室使用。愛佩恒溫恒濕設(shè)備滿足GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn);GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備;GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法;GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法;GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán));GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》;IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)等標(biāo)準(zhǔn)。

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